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常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料

常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料收起

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  • 厦门大学联合华为发布新成果:4英寸金刚石晶圆异质集成
    随着5G、人工智能、高性能计算和汽车电子等领域快速发展,芯片集成度和功耗持续攀升。论文指出,现代高性能芯片的功耗已经超过1000 W,传统散热方式逐渐接近性能极限,热管理已成为影响芯片性能、可靠性和寿命的关键因素。 在众多散热材料中,金刚石凭借超过2000 W/(m·K)的超高热导率,以及优异的电学性能、机械稳定性等优势,被认为是下一代芯片散热的重要候选材料。不过,要真正发挥金刚石的散热能力,关键
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    07/18 12:12
  • 超16亿!新增3起SiC收购案
    近日,碳化硅半导体行业新增3起收购案,合计涉及金额超16亿元: ABB:宣布收购法国碳化硅电力方案供应商Advantics,预计2026年Q4完成交易; 中微公司:宣布收购杭州众硅64.69%股权,交易作价15.76亿元; JX金属株式会社:追加Gaianixx公司C轮第一阶段股权融资,交易金额为2921万元。 ABB:宣布收购法国SiC电力厂商 7月15日,ABB宣布其正在收购法国碳化硅电力变换
  • 共聚焦局限与白光干涉仪全场景解决方案
    在半导体与超精密制造领域,工件表面粗糙度检测精度直接决定产品质量与服役性能。激光共聚焦显微镜(LCM)存在工业样品检测偏差大、重复性差的行业共性问题,但其标准块检测数据稳定。本文依据ISO、国标权威检测规范,系统剖析LCM数据失真根源,引入大视野3D白光干涉仪(WLI)解决方案,解决标准化检测适配难题,满足超精密工件、半导体晶圆高精度质控需求。 一、激光共聚焦显微镜粗糙度检测偏差解析 1.1 物镜
  • BGA 共面度异常导致接触电阻不稳定,采用白光干涉仪测量
    摘要 球栅阵列封装(BGA, Ball Grid Array)焊球共面度(Coplanarity)超差是半导体SMT制程核心失效诱因,会直接造成焊点有效接触面积波动,引发接触电阻(Contact Resistance)漂移、跳变等异常问题。本文结合IPC-7095D、JEDEC JESD22-B108等公开行业标准,阐述BGA共面度异常的失效机理,介绍白光干涉仪(WLI, White Light
  • 煤化工气化炉 / 煤浆阀密封面平面度的光学轮廓测量研究
    煤化工气化炉(Coal Gasifier)配套煤浆阀(Coal Slurry Valve)是煤化工高压煤浆输送系统的核心管控部件,其密封面(Sealing Surface)的平面度(Flatness)是保障设备密封可靠性的关键指标。煤浆介质含硬质固体颗粒,长期高压冲刷易造成密封面磨损、微变形,引发介质泄漏、系统压力波动等运行故障。因此,开展密封面高精度平面度检测,是气化炉设备运维、规避停机故障的核